Mme. BERKAOUI Emna
Promotion : 2017
Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tunis (ENIT)
Stage : Schneider-Electric ( Grenoble )
Mission : Solution optimisée pour pallier aux phénomènes des creux de tensions - application aux usines de fabrication des semi-conducteurs
Résumé Stage : L'impact des perturbations de l'alimentation sur les processus industriels est considérable. L'industrie des semi-conducteurs figure parmi les plus touchées par ces phénomènes vus que les creux de tension et les interruptions ont des conséquences désastreuses sur le plan économique (potentiellement des millions de dollars de recettes par jour). Ainsi, garantir une alimentation électrique fiable et une qualité d’énergie optimale est indispensable pour ce type industries.
Pour pallier à la problématique des perturbations de tension, l’architecture électrique alimentant les équipements les plus sensibles doit être conçue de manière optimale en intégrant des dispositifs pour pallier l’effet de ces phénomènes.
Le but de cette étude est d’aboutir à une solution optimale permettant d’assurer la qualité d’énergie requise par ce type d’installations. Pour répondre à cet objectif, le système de distribution électrique a d’abord été dimensionné. Ensuite trois solutions proposées (DVR, ASI avec batterie Li-ion et ASI avec batteries Plomb VRLA) ont été évaluées sur la base des critères définis. Enfin, le choix de la solution optimale a été basée principalement sur la fiabilité et les coûts.
Mots-clés : DVR (Dynamic Voltage Restorer), ASI (Alimentation Sans Interruption), power quality, voltage sags, semiconductor electrical distribution.